微區掃描電化學顯微技術（Scanning Electrochemical Microscopy,SECM）是一種基于電化學原理的顯微技術，它通過測量微區內物質氧化或還原所給出的電化學電流來工作。以下是該技術的工作原理和主要組成部分：

　　工作原理

　　1.探針與基底：SECM使用一支非常小的電極（探針），通常是超微圓盤電極（UMDE），在靠近樣品（導體、絕緣體或半導體）處進行掃描。

　　2.電位施加與反應：當探針與基底同時浸入含有電活性物質的溶液中時，在探針上施加一定的電位（ET），使發生還原反應。

　　3.反饋機制：

　　-正反饋：當探針靠近導電基底時，其電位控制在氧化電位，則基底產物可擴散回探針表面，使探針電流增大。探針離樣品的距離越近，電流就越大。

　　-負反饋：當探針靠近絕緣基底表面時，本體溶液中電活性物質向探針的擴散受到基底的阻礙，故探針電流減小；且越接近樣品，電流越小。

　　4.掃描與成像：通過固定探針與基底間距對基底進行二維掃描，探針上的電流變化將提供基底的形貌和相應的電化學信息。SECM也可工作于“恒電流”狀態，即恒定探針電流，檢測探針z向位置變化以實現成像過程。

　　主要組成部分

　　1.電化學部分：包括電解池、探頭、基底、各種電極和雙恒電位儀。

　　2.壓電驅動器：用來精確地控制操作探針和基底的位置。

　　3.計算機：用于控制操作、獲取和分析數據。

　　微區掃描電化學顯微技術通過精細的電化學測量和反饋機制，能夠在納米級別上研究材料的電化學性質和行為，為科學研究和工業應用提供了有力的工具。